Detection and Prediction of Errors in EPCs of the SAP Reference Model

Mendling, J.; Verbeek, H. M. W.; van Dongen, B. F.; van der Aalst, Wil M. P.; Neumann, G.

Amsterdam [u.a.] / Elsevier (2008) [Fachzeitschriftenartikel]

Data & knowledge engineering
Band: 64
Ausgabe: 1
Seite(n): 312-329

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