Verification of the SAP Reference Models Using EPC Reduction, State-space Analysis, and Invariants

van Dongen, B. F.; Jansen-Vullers, M. H.; Verbeek, H. M. W.; van der Aalst, Wil M. P.

Amsterdam [u.a.] / Elsevier Science (2007) [Fachzeitschriftenartikel]

Computers in industry
Band: 58
Ausgabe: 6
Seite(n): 578-601

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