Evaluating and Predicting Overall Process Risk Using Event Logs

Pika, A.; van der Aalst, Wil M. P.; Wynn, M. T.; Fidge, C. J.; ter Hofstede, A. H. M.

New York, NY : Elsevier Science Inc. (2016)
Fachzeitschriftenartikel

In: Information Sciences
Band: 352/353
Seite(n)/Artikel-Nr.: 98-120

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