Discovering Signature Patterns from Event Logs

Jagadeesh Chandra Bose, R. P.; van der Aalst, Wil M. P.

Singapore : IEEE (2013)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: IEEE Symposium on Computational Intelligence and Data Mining (CIDM 2013)
Seite(n)/Artikel-Nr.: 111-118

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