A general framework to detect behavioral design patterns

Piscataway, NJ] / IEEE (2018) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

2018 ACM/IEEE 40th International Conference on Software Engineering: Software Engineering Education and Training : ICSE-SEET 2018 : 30 May-1 June 2018, Gothenburg, Sweden : proceedings
Seite(n): 234-235

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Liu, Cong
van Dongen, Boudewijn
Assy, Nour
van der Aalst, Wil M. P.

Identifikationsnummern